SMT核心工艺解析与案例分析（第2版）

14.3 爬行腐蚀现象

14.2 电容硫化现象

14.1 厚膜电阻/排阻硫化失效

第14章 腐蚀失效

13.7 无工装操作使元件撞掉

13.6 元件被周转车导槽撞掉

13.5 散热器弹性螺钉引起周边BGA的焊点拉断

13.4 无工装安装螺钉导致BGA焊点拉断

13.3 多次弯曲造成BGA焊盘拉断

13.2 机械冲击引起BGA脆断

13.1 不当的拆连接器操作使SOP引脚拉断

第13章 操作不当引起的焊点断裂与元件问题

12.6 喷涂三防漆后局部出现雾状白块

12.5 导通孔焊盘及元件焊端发黑

12.4 焊点附近三防漆变白

12.3 强活性焊剂引起焊点间短路

12.2 焊点表面残留焊剂白化

12.1 焊剂残留物引起的绝缘电阻下降

第12章 由手工焊接、三防工艺引起的问题

11.13 拼版V槽残留厚度小导致PCB严重变形

11.12 设计不当导致模块电源焊点断裂

11.11 设计不当引起片容失效

11.10 不同焊接温度需求的元件布局在同一面

11.9 模块黏合工艺引起片容开裂

11.8 托盘选择性波峰焊工艺下元件布局不合理导致被撞掉

11.7 散热器弹性螺钉布局不合理引起周边B G A的焊点断裂

11.6 BGA焊点断裂

11.5 测试盘接通率低

11.4 焊盘大小不同导致表贴电解电容再流焊接移位

11.3 焊盘与元件引脚尺寸不匹配引起开焊

11.2 焊盘上开金属化孔引起的虚焊、冒锡球

11.1 HDI板焊盘上的微盲孔引起的少锡/开焊

第11章 由设计因素引起的工艺问题

10.6 贴片机贴放时使屏蔽架变形

10.5 贴片机PCB夹持工作台上下冲击引起重元件移位

10.4 再流焊接炉导轨故障使单板烧焦

10.3 再流焊接炉链条颤动引起元件移位

10.2 PCB静电引起Dek印刷机频繁死机

10.1 再流焊后PCB表面出现坚硬黑色异物

第10章 由设备引起的问题

9.23 MLP（Molded Laser POP）的虚焊与桥连

9.22 手机侧键内进松香

9.21 灌封器件吹气

9.20 钽电容旁元件被吹走

9.19 通孔再流焊“球头现象”

9.18 连接器压接后偏斜

9.17 复合器件内部开裂——晶振内部

9.16 FCBGA翘曲

9.15 手机EMI器件的虚焊

9.14 片式排阻虚焊

9.13 堆叠封装焊接造成内部桥连

9.12 铜柱引线的焊接——焊点断裂

9.11 全矩阵B G A的返修——角部焊点桥连或心部焊点桥连

9.10 陶瓷板塑封模块焊接时内焊点桥连

9.9 片式元件两端电镀尺寸不同导致立片

9.8 BGA焊盘下PCB次表层树脂开裂

9.7 SLUG-BGA的虚焊

9.6 元件热变形引起的开焊

9.5 QFN虚焊

9.4 片式排阻开焊

9.3 宽平引脚开焊

9.2 单侧引脚连接器开焊

9.1 银电极浸析

第9章 由元件电极结构、封装引起的问题

8.25 PCB基材波峰焊接后起白斑现象

8.24 元件下导通孔塞孔不良导致元件移位

8.22 丝印字符过炉变紫

8.21 PTH孔口色浅

8.20 单面塞孔质量问题

8.19 导通孔藏锡珠现象及危害

8.18 BGA下导通孔阻焊偏位

8.17 PCB局部凹陷引起焊膏桥连

8.16 超储存期板焊接分层

8.15 微盲孔内残留物引起BGA焊点空洞大尺寸化

8.14 PCB光板过炉（无焊膏）焊盘变深黄色

8.13 ENIG镀孔压接问题

8.12 阻焊剂起泡

8.11 喷纯锡对焊接的影响

8.10 OSP板全部焊盘不润湿

8.9 OSP板个别焊盘不润湿

8.8 OSP板波峰焊接时金属化孔透锡不良

8.7 ENIG面区域性麻点状腐蚀现象

8.6 ENIG表面过炉后变色

8.4 BGA拖尾孔

8.3 波峰焊点吹孔

8.2 再流焊接时导通孔“长”出黑色物质

8.1 无铅HDI板分层

第8章 由PCB引起的问题

7.48 POP虚焊

7.47 铜柱连接块开焊

7.46 变压器、共模电感开焊

7.45 片式电容因工艺引起的开裂失效

7.44 热沉焊盘虚焊

7.43 热沉焊盘导热孔底面冒锡

7.42 热沉元件焊剂残留物聚集现象

7.41 QFN开焊与少锡（与散热焊盘有关的问题）

7.40 测试针床设计不当（焊盘烧焦并脱落）

7.39 通孔再流焊插针太短导致气孔

7.38 元件移位——特定条件：元件下导通孔塞孔不良

7.37 元件移位——特定条件：焊盘比引脚宽

7.36 元件移位——特定条件：较大尺寸热沉焊盘上有盲孔

7.35 元件移位——特定条件：设计/工艺不当

7.34 元件移位

7.33 PCB变色但焊膏没有熔化

7.32 波峰焊托盘设计不合理导致冷焊问题

7.31 波峰焊掉片

7.30 插件桥连——特定条件：托盘开窗引起的

7.29 插件桥连——特定条件：安装形态（引线、焊盘、间距组成的环境）引起的

7.28 插件元件桥连

7.27 0603波峰焊时两焊端桥连

7.26 锡珠

7.25 立碑

7.24 锡球--特定条件：波峰焊工艺

7.23 锡球——特定条件：再流焊工艺

7.22 ENIG盘面焊剂污染

7.21 ENIG盘面焊锡污染

7.20 无铅焊点微裂

7.19 BGA焊点与临近导通孔锡环间桥连

7.18 BGA焊点间桥连

7.17 BGA返修工艺中出现的桥连

7.16 BGA结构型断裂

7.15 BGA热重熔断裂

7.14 BGA焊点机械应力断裂

7.13 BGA黑盘断裂

7.12 BGA焊盘不润湿——特定条件：焊盘无焊膏

7.11 BGA焊盘不润湿

7.10 BGA冷焊

7.9 BGA球窝现象

7.8 BGA虚焊的类别

7.7 BGA空洞——特定条件：HDI板

7.6 BGA空洞——特定条件：混装工艺

7.5 BGA空洞

7.4 元件侧立、翻转

7.3 气孔或空洞

7.2 密脚器件虚焊

7.1 密脚器件的桥连

第7章 由工艺因素引起的问题

下篇 生产工艺问题与对策

6.10 插装元件的工艺设计

6.9 散热器的安装方式引发元件或焊点损坏

6.8 厚膜电路的可靠性设计

6.7 再流焊接底面元件的布局设计

6.6 组装可靠性的设计

6.5 面向直通率的工艺设计

6.4 PCBA的热设计

6.3 阻焊层的设计

6.2 元件间隔设计

6.1 焊盘设计

第6章 可制造性设计

5.9 无卤组装工艺面临的挑战

5.8 无铅烙铁的选用

5.7 无铅工艺条件下微焊盘组装的要领

5.6 PCB表面处理工艺引起的质量问题

5.5 混装工艺条件下BGA的应力断裂问题

5.4 混装工艺条件下BGA的收缩断裂问题

5.3 BGA混装工艺

5.2 无铅工艺

5.1 RoHS

第5章 无铅工艺

4.12 表贴同轴连接器焊接的可靠性

4.11 子板/模块铜柱引出端组装工艺要点

4.10 铝电解电容膨胀变形对性能的影响评估

4.9 片式电容组装工艺要点

4.8 晶振组装工艺要点

4.7 陶瓷柱状栅阵列元件（CCGA）组装工艺要点

4.6 QFN组装工艺

4.5 POP组装工艺

4.4 BGA组装工艺

4.3 0.4mmCSP组装工艺

4.2 0201组装工艺

4.1 01005组装工艺

第4章 特定封装组装工艺

3.14 不当的操作行为

3.13 Underfill加固器件的返修

3.12 潮湿敏感器件的组装风险

3.11 散热片的粘贴工艺

3.10 BGA的角部点胶加固工艺

3.9 烙铁焊接

3.8 柔性板组装工艺

3.7 通孔再流焊

3.6 选择性波峰焊

3.5 波峰焊

3.4 再流焊接

3.3 贴片

3.2 焊膏印刷

3.1 钢网设计

第3章 核心工艺

2.4 常用焊料的合金相图

2.3 无铅焊料

2.2 失活性焊膏

2.1 焊膏

第2章 工艺辅料

1.16 如何做工艺

1.15 焊点可靠性与失效分析的基本概念

1.14 PCB的烘干

1.13 P-BGA封装体翘曲与吸潮量、温度的关系

1.12 片式元件焊点剪切力范围

1.11 焊点质量判别

1.10 工艺窗口与工艺能力

1.9 黑盘

1.8 金属间化合物

1.7 表面润湿与可焊性

1.6 表面组装工艺控制关键点

1.5 印制电路板制造工艺

1.4 表面组装元器件的封装形式

1.3 PCBA组装流程设计

1.1 SMT概述

第1章 表面组装基础知识

上篇 表面组装核心工艺解析

前言

序

版权信息

封面

封面

版权信息

序

前言

上篇 表面组装核心工艺解析

第1章 表面组装基础知识

1.1 SMT概述

1.3 PCBA组装流程设计

1.4 表面组装元器件的封装形式

1.5 印制电路板制造工艺

1.6 表面组装工艺控制关键点

1.7 表面润湿与可焊性

1.8 金属间化合物

1.9 黑盘

1.10 工艺窗口与工艺能力

1.11 焊点质量判别

1.12 片式元件焊点剪切力范围

1.13 P-BGA封装体翘曲与吸潮量、温度的关系

1.14 PCB的烘干

1.15 焊点可靠性与失效分析的基本概念

1.16 如何做工艺

第2章 工艺辅料

2.1 焊膏

2.2 失活性焊膏

2.3 无铅焊料

2.4 常用焊料的合金相图

第3章 核心工艺

3.1 钢网设计

3.2 焊膏印刷

3.3 贴片

3.4 再流焊接

3.5 波峰焊

3.6 选择性波峰焊

3.7 通孔再流焊

3.8 柔性板组装工艺

3.9 烙铁焊接

3.10 BGA的角部点胶加固工艺

3.11 散热片的粘贴工艺

3.12 潮湿敏感器件的组装风险

3.13 Underfill加固器件的返修

3.14 不当的操作行为

第4章 特定封装组装工艺

4.1 01005组装工艺

4.2 0201组装工艺

4.3 0.4mmCSP组装工艺

4.4 BGA组装工艺

4.5 POP组装工艺

4.6 QFN组装工艺

4.7 陶瓷柱状栅阵列元件（CCGA）组装工艺要点

4.8 晶振组装工艺要点

4.9 片式电容组装工艺要点

4.10 铝电解电容膨胀变形对性能的影响评估

4.11 子板/模块铜柱引出端组装工艺要点

4.12 表贴同轴连接器焊接的可靠性

第5章 无铅工艺

5.1 RoHS

5.2 无铅工艺

5.3 BGA混装工艺

5.4 混装工艺条件下BGA的收缩断裂问题

5.5 混装工艺条件下BGA的应力断裂问题

5.6 PCB表面处理工艺引起的质量问题

5.7 无铅工艺条件下微焊盘组装的要领

5.8 无铅烙铁的选用

5.9 无卤组装工艺面临的挑战

第6章 可制造性设计

6.1 焊盘设计

6.2 元件间隔设计

6.3 阻焊层的设计

6.4 PCBA的热设计

6.5 面向直通率的工艺设计

6.6 组装可靠性的设计

6.7 再流焊接底面元件的布局设计

6.8 厚膜电路的可靠性设计

6.9 散热器的安装方式引发元件或焊点损坏

6.10 插装元件的工艺设计

下篇 生产工艺问题与对策

第7章 由工艺因素引起的问题

7.1 密脚器件的桥连

7.2 密脚器件虚焊

7.3 气孔或空洞

7.4 元件侧立、翻转

7.5 BGA空洞

7.6 BGA空洞——特定条件：混装工艺

7.7 BGA空洞——特定条件：HDI板

7.8 BGA虚焊的类别

7.9 BGA球窝现象

7.10 BGA冷焊

7.11 BGA焊盘不润湿

7.12 BGA焊盘不润湿——特定条件：焊盘无焊膏

7.13 BGA黑盘断裂

7.14 BGA焊点机械应力断裂

7.15 BGA热重熔断裂

7.16 BGA结构型断裂

7.17 BGA返修工艺中出现的桥连

7.18 BGA焊点间桥连

7.19 BGA焊点与临近导通孔锡环间桥连

7.20 无铅焊点微裂

7.21 ENIG盘面焊锡污染

7.22 ENIG盘面焊剂污染

7.23 锡球——特定条件：再流焊工艺

7.24 锡球--特定条件：波峰焊工艺

7.25 立碑

7.26 锡珠

7.27 0603波峰焊时两焊端桥连

7.28 插件元件桥连

7.29 插件桥连——特定条件：安装形态（引线、焊盘、间距组成的环境）引起的

7.30 插件桥连——特定条件：托盘开窗引起的

7.31 波峰焊掉片

7.32 波峰焊托盘设计不合理导致冷焊问题

7.33 PCB变色但焊膏没有熔化

7.34 元件移位

7.35 元件移位——特定条件：设计/工艺不当

7.36 元件移位——特定条件：较大尺寸热沉焊盘上有盲孔

7.37 元件移位——特定条件：焊盘比引脚宽

7.38 元件移位——特定条件：元件下导通孔塞孔不良

7.39 通孔再流焊插针太短导致气孔

7.40 测试针床设计不当（焊盘烧焦并脱落）

7.41 QFN开焊与少锡（与散热焊盘有关的问题）

7.42 热沉元件焊剂残留物聚集现象

7.43 热沉焊盘导热孔底面冒锡

7.44 热沉焊盘虚焊

7.45 片式电容因工艺引起的开裂失效

7.46 变压器、共模电感开焊

7.47 铜柱连接块开焊

7.48 POP虚焊

第8章 由PCB引起的问题

8.1 无铅HDI板分层

8.2 再流焊接时导通孔“长”出黑色物质

8.3 波峰焊点吹孔

8.4 BGA拖尾孔

8.6 ENIG表面过炉后变色

8.7 ENIG面区域性麻点状腐蚀现象

8.8 OSP板波峰焊接时金属化孔透锡不良

8.9 OSP板个别焊盘不润湿

8.10 OSP板全部焊盘不润湿

8.11 喷纯锡对焊接的影响

8.12 阻焊剂起泡

8.13 ENIG镀孔压接问题

8.14 PCB光板过炉（无焊膏）焊盘变深黄色

8.15 微盲孔内残留物引起BGA焊点空洞大尺寸化

8.16 超储存期板焊接分层

8.17 PCB局部凹陷引起焊膏桥连

8.18 BGA下导通孔阻焊偏位

8.19 导通孔藏锡珠现象及危害

8.20 单面塞孔质量问题

8.21 PTH孔口色浅

8.22 丝印字符过炉变紫

8.24 元件下导通孔塞孔不良导致元件移位

8.25 PCB基材波峰焊接后起白斑现象

第9章 由元件电极结构、封装引起的问题

9.1 银电极浸析

9.2 单侧引脚连接器开焊

9.3 宽平引脚开焊

9.4 片式排阻开焊

9.5 QFN虚焊

9.6 元件热变形引起的开焊

9.7 SLUG-BGA的虚焊

9.8 BGA焊盘下PCB次表层树脂开裂

9.9 片式元件两端电镀尺寸不同导致立片

9.10 陶瓷板塑封模块焊接时内焊点桥连

9.11 全矩阵B G A的返修——角部焊点桥连或心部焊点桥连

9.12 铜柱引线的焊接——焊点断裂

9.13 堆叠封装焊接造成内部桥连

9.14 片式排阻虚焊

9.15 手机EMI器件的虚焊

9.16 FCBGA翘曲

9.17 复合器件内部开裂——晶振内部

9.18 连接器压接后偏斜

9.19 通孔再流焊“球头现象”

9.20 钽电容旁元件被吹走

9.21 灌封器件吹气

9.22 手机侧键内进松香

9.23 MLP（Molded Laser POP）的虚焊与桥连

第10章 由设备引起的问题

10.1 再流焊后PCB表面出现坚硬黑色异物

10.2 PCB静电引起Dek印刷机频繁死机

10.3 再流焊接炉链条颤动引起元件移位

10.4 再流焊接炉导轨故障使单板烧焦

10.5 贴片机PCB夹持工作台上下冲击引起重元件移位

10.6 贴片机贴放时使屏蔽架变形

第11章 由设计因素引起的工艺问题

11.1 HDI板焊盘上的微盲孔引起的少锡/开焊

11.2 焊盘上开金属化孔引起的虚焊、冒锡球

11.3 焊盘与元件引脚尺寸不匹配引起开焊

11.4 焊盘大小不同导致表贴电解电容再流焊接移位

11.5 测试盘接通率低

11.6 BGA焊点断裂

11.7 散热器弹性螺钉布局不合理引起周边B G A的焊点断裂

11.8 托盘选择性波峰焊工艺下元件布局不合理导致被撞掉

11.9 模块黏合工艺引起片容开裂

11.10 不同焊接温度需求的元件布局在同一面

11.11 设计不当引起片容失效

11.12 设计不当导致模块电源焊点断裂

11.13 拼版V槽残留厚度小导致PCB严重变形

第12章 由手工焊接、三防工艺引起的问题

12.1 焊剂残留物引起的绝缘电阻下降

12.2 焊点表面残留焊剂白化

12.3 强活性焊剂引起焊点间短路

12.4 焊点附近三防漆变白

12.5 导通孔焊盘及元件焊端发黑

12.6 喷涂三防漆后局部出现雾状白块

第13章 操作不当引起的焊点断裂与元件问题

13.1 不当的拆连接器操作使SOP引脚拉断

13.2 机械冲击引起BGA脆断

13.3 多次弯曲造成BGA焊盘拉断

13.4 无工装安装螺钉导致BGA焊点拉断

13.5 散热器弹性螺钉引起周边BGA的焊点拉断

13.6 元件被周转车导槽撞掉

13.7 无工装操作使元件撞掉

第14章 腐蚀失效

14.1 厚膜电阻/排阻硫化失效

14.2 电容硫化现象

14.3 爬行腐蚀现象